Cпектрофотометр Laboao LV-T1N

Однолучевой спектрофотометр Laboao LV-T1N — это прибор, который используется для измерения коэффициента пропускания или отражения растворов, прозрачных или непрозрачных твердых веществ, таких как полированное стекло или газы.

Он часто используется для измерения активности ферментов, определения концентраций белка, определения ферментативных кинетических констант и измерения реакций связывания лигандов. То есть с его помощью удобно измерять поглощение и пропускание образца на определенной длине волны.

Уникальная конструкция оптической системы, высокоэффективная голографическая решетка и приемник обеспечивают отличные рабочие характеристики прибора. В пробоотборную камеру прибора данной модели можно помещать кюветы с оптическим путем 100 мм, а также, в целом, можно размещать различные кюветы 5-100 мм. Ему соответствуют новейшие технологии микрокомпьютерной обработки, чтобы сделать работу более удобной. Используется автономная работа, производится измерение уравнения линейной регрессии и т. д.

Данный прибор применяется в базовой лаборатории по охране окружающей среды в колледжах и университетах в качестве учебного пособия. Использование спектрофотометра Laboao охватывает различные научные области, такие как физика, материаловедение, химия, биохимия, химическая инженерия и молекулярная биология.

Особенности спектрофотометра Laboao LV-T1N для лаборатории:

• Спектрофотометрия в видимой области электромагнитного спектра;
• Источник света: вольфрамовая лампа;
• Диапазон длин волн: 325-1000 нм;
• Спектральная полоса пропускания: 4 нм;
• Точность длины волны: ±2 нм;
• Повторяемость длины волны: 0,1 нм;
• В пробоотборную камеру можно помещать кюветы с оптическим путем 100 мм;
• Также можно размещать различные кюветы 5-100 мм;
• Применяется в базовой лаборатории по охране окружающей среды;
• Уникальная конструкция оптической системы;
• Высокоэффективная голографическая решетка и приемник;
• Использование автономной работы;
• Измерение уравнения линейной регрессии;
• Новейшие технологии микрокомпьютерной обработки;
• Руководство по длине волны;
• Метод работы, Т/А/К/Ф.