Сайт обновлён 12 ноября 2024
Москва, Угрешская ул, д. 2, корп. 55
Работаем с 2009 года.
- Поставка, поверка и ремонт измерительных приборов.
- Аттестация лабораторий НК. Производство УЗК ПЭП.
- Скидки торгующим фирмам. Оплата после поставки.
Круглосуточный прием заявок
Generic selectors
Exact matches only
Search in title
Search in content
Search in posts
Search in pages
Filter by Categories
Акции
Новости
Обзоры
Партнеры
0
Главная Товары Электрический контроль Кабельные анализаторы Fluke Networks OFP-SM, одномодовый сменный модуль

Fluke Networks OFP-SM, сменный модуль для проверки и сертификации одномодового оптического кабеля.

Технические характеристики:

OptiFiber® Pro OTDR
Ключевые спецификации OTDR
Многомодовый модуль Одномодовый модуль Модуль Quad
Длины волн 850 нм ± 10 нм
1300 нм +35/-15 нм
1310 нм ± 25 нм
1550 нм ± 30 нм
850 нм ± 10 нм
1300 нм +35/-15 нм
1310 нм ± 25 нм
1550 нм ± 30 нм
Совместимые типы оптоволокна 50/125 мкм
62,5/125 мкм
Одномодовый 50/125 мкм
62,5/125 мкм
Одномодовый
Мертвая зона событий 1 850 нм: 0,5 м стандарт
1300 нм: 0,7 м стандарт
1310 нм: 0,6 м стандарт
1550 нм: 0,6 м стандарт
850 нм: 0,5 м стандарт
1300 нм: 0,7 м стандарт
1310 нм: 0,6 м стандарт
1550 нм: 0,6 м стандарт
Мертвая зона затухания 2 850 нм: 2,5 м стандарт
1300 нм: 4,5 м стандарт
1310 нм: 3,6 м стандарт
1550 нм: 3,7 м стандарт
850 нм: 2,5 м стандарт
1300 нм: 4,5 м стандарт
1310 нм: 3,6 м стандарт
1550 нм: 3,7 м стандарт
Динамический диапазон 3, 5, 6 850 нм: 28 дБ, стандартно
1300 нм: 30 дБ, стандартно
1310 нм: 32 дБ, стандартно
1550 нм: 30 дБ, стандартно
850 нм: 28 дБ, стандартно
1300 нм: 30 дБ, стандартно
1310 нм: 32 дБ, стандартно
1550 нм: 30 дБ, стандартно
Установка максимальной длины 40 км 130 км MM: 40 км
SM: 130 км
Диапазон измерения расстояния 4, 5, 7, 8, 9, 10 850 нм: 9 км
1300 нм: 35 км
1310 нм: 80 км
1550 нм: 130 км
850 нм: 9 км
1300 нм: 35 км
1310 нм: 80 км
1550 нм: 130 км
Диапазон отражающей способности 4, 5 850 нм: -14 дБ – -57 дБ (стандартно)
1300 нм: -14 дБ – -62 дБ (стандартно)
1310 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно)
1550 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно)
850 нм: -14 дБ – -57 дБ (стандартно)
1300 нм: -14 дБ – -62 дБ (стандартно)
1310 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно)
1550 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно)
Разрешающая способность пробы 3 см — 400 см 3 см — 400 см 3 см — 400 см
Продолжительность импульса (номинальная) 850 нм: 3, 5, 20, 40, 200 нс
1300 нм: 3, 5, 20, 40, 200, 1000 нс
1310/1550 нм: 3, 10, 30, 100, 300, 1000,
3000, 10000, 20000 нс
850 нм: 3, 5, 20, 40, 200 нс
1300 нм: 3, 5, 20, 40, 200, 1000 нс
1310/1550 нм: 3, 10, 30, 100, 300, 1000, 3000, 10000, 20000 нс
Время тестирования (на длину волны)
Автоматическая настройка: 5 с (стандартно) Автоматическая настройка: 10 с (стандартно) Автоматическая настройка:
MM – 5 с (стандартно)
SM – 10 с (стандартно)
Настройка быстрого тестирования:
2 с (стандартно)
Настройка быстрого тестирования:
5 с (стандартно)
Настройка быстрого тестирования:
MM – 2 с (стандартно)
SM – 5 с (стандартно)
Настройка наивысшей точности:
2 – 180 с
Настройка наивысшей точности:
5 – 180 с
Настройка наивысшей точности:
MM – 2 – 180 с M
SM – 5 – 180 с
Настройка FaultMap:
2 с (стандартно), 180 с (макс.)
Настройка FaultMap:
10 с (стандартно), 180 с (макс.)
Настройка FaultMap:
MM – 2 с (стандартно), MM – 180 с (макс.)
SM – 10 с (стандартно), SM – 180 с (макс.)
Настройка OTDR для центра обработки данных:
1 с (стандартно при 850 нм), 7 с (макс.)
Настройка OTDR для центра обработки данных:
20 с (стандартно), 40 с (макс.)
Настройка OTDR для центра обработки данных:
MM – 1 с (стандартно при 850 нм) MM – 7 с (макс.)
SM – 20 с (стандартно) SM – 40 с (макс.)
Ручная настройка:
3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с
Ручная настройка:
3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с
Ручная настройка:
-3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с SM — 3, 5,
10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с

 

1.Измерение выполняется при 1,5 дБ ниже ненасыщенного пика отражения и при кратчайшей продолжительности импульса. Пик отражения < -40 дБ для многомодового режима и < — 50 дБ для одномодового режима.

2.Измерение выполняется при отклонении ± 0,5 дБ от обратного рассеяния и при кратчайшей продолжительности импульса. Пик отражения < -40 дБ для многомодового режима и < — 50 дБ для одномодового режима.

3.Для стандартного коэффициента обратного рассеяния для оптоволокна OM1: 850: -65 дБ, 1300: -72 дБ.

4.Стандартные коэффициенты обратного рассеяния и затухания для оптоволокна OM2-OM4: 850 нм: -68 дБ; 2,3 дБ/км: 1300 нм: -76 дБ; 0,6 дБ/км.

5.Стандартные коэффициенты обратного рассеяния и затухания для оптоволокна OS1-OS2: 1310 нм: -79 дБ; 0,32 дБ/км; 1550 нм: -82 дБ; 0,19 дБ/км.

6.SNR=1 метод, 3 минут в среднем, самая долгая продолжительность импульса.
7.850 = 9 км стандартно для поиска конца или 7 км стандартно для поиска события 0,1 дБ (с максимальным затуханием 18 дБ перед событием).

8.1300 = 35 км стандартно для поиска конца или 30 км стандартно для поиска события 0,1 дБ (с максимальным затуханием 18 дБ перед событием).

9.1310 = 80 км стандартно для поиска конца или 60 км стандартно для поиска события 0,1 дБ (с максимальным затуханием 20 дБ перед событием).

10.1550 = 130 км стандартно для поиска конца или 90 км стандартно для поиска события 0,1 дБ (с максимальным затуханием 18 дБ перед событием).

11.Не включает погрешность показателя преломления и погрешность автоматического определения местоположения события.

12.дБ колебания на шаг 1 дБ.

13.Относится к обратному рассеянию трассировки в пределах диапазона расстояния, на котором OTDR может найти событие 0,1 дБ.

Комплект поставки:

  • Fluke Networks OFP-SM
  • Запасной/сменный одномодовый (SМ) модуль OFP OTDR
Задать вопрос
Для того, что бы наш специалист связался с Вами, пожалуйста, оставьте Ваши контактные данные
Товар добавлен в корзину
Цена:
Сумма:
Продолжить покупки
Оформить заказ