Leica DM ILM в комплектации AIM, инвертированный микроскоп для контроля качества материалов

Микроскоп Leica DM ILM в комплектации AIM разработан специально для выполнения металлографических и испытательных контрольно-измерительных задач, входного и производственного контроля, контроля пробоподготовки, а также для учебных целей в области металлографии. Если нужен недорогой микроскоп для конкретных задач, лучший вариант — Leica DM ILM_AIM, компактный, простой в эксплуатации и универсальный, способный работать с образцами любых размеров. Высококачественная оптика семейства Leica HC гарантирует максимальную четкость и контрастность изображений.

Основной штатив
Выполнен из прочного, коррозионно-стойкого литого алюминия.

T-образная форма основания микроскопа обеспечивает высокую устойчивость и дает простор для движений рук и беспрепятственный доступ к управлению.
Основание микроскопа с амортизирующими ножками предотвращает передачу вибраций и гарантирует устойчивость изображения даже при больших увеличениях и тяжелых образцах.

Встроенный бок питания на 6 В 35 Вт имеет компактную конструкцию, которая экономит массу места на рабочем столе, позволяя избежать хаотического переплетения кабелей. Микроскоп с блоком можно переносить на другой стол как единый прибор.
Кроме того, штатив имеет байонетный разъем для лампового патрона с внешним питанием для галогенных ламп на 12 В, 100 Вт или ртутных ламп на 50/100 Вт и ксеноновых газоразрядных ламп 75  Вт.  По желанию заказчика могут быть установлены два патрона одновременно, что требуется, например, для работы в режимах светлого поля и флуоресценции.

Большая поверхность столика с размерами 247 x 230 мм легко вмещает образцы большой ширины и высоты,  а в случае крупногабаритных образцов можно полностью снять внутреннюю прямоугольную вставку размером  150  x  150  мм. Образцы малого размера располагаются на внутренних вставках, имеющих отверстия диаметром 80 мм, 40 мм, 30 мм и 20 мм. Они могут дополнительно комплектоваться с ручками для извлечения или поворота образца.

Двухсторонняя крупногабаритная опора столика на основном штативе выдерживает вес до 8 кг.
Широкий диапазон регулировки в 60 x 40 мм в плоскости x-y обеспечивает быстрое сканирование и доступ к интересующим участкам образца.

Фокусировка образцов осуществляется путем вертикальной регулировки четырехпозиционной револьверной головки для окуляров и объективов. Вес столика и образца на точность фокусировки не влияют.