Анализаторы M4 TORNADO предназначены для неразрушающего элементного анализа и элементного картирования в материаловедении, экспертизе, геологии, археологии, биологии и т. д. Спектрометр использует метод микрорентгенофлуоресцентного анализа (микро-РФА), который позволяет производить неразрушающий элементный анализ неоднородных проб, проб неправильной формы или небольших включений в пробе с высокой чувствительностью. Фокусировка рентгеновского излучения осуществляется с помощью поликапиллярной оптики, что увеличивает его интенсивность на три порядка по сравнению с коллиматорной оптикой. По выбору заказчика спектрометр может оснащаться рентгеновской трубкой с поликапилляром или коллиматором.
Опционально возможна установка двух рентгеновских трубок для эффективного возбуждения необходимых элементов и двух SDD-детекторов для увеличения скорости сканирования поверхности и снижения эффекта тени.
Характеристика | M4 TORNADO | M4 TORNADO AMICS | M4 TORNADO PLUS |
---|---|---|---|
Тип | стационарный | стационарный | стационарный |
Материал образцов / применение | геология, цемент, жидкости, стекло / керамика, драгоценные металлы, археология, реставрация и искусствоведение, растения, продукты питания, потребительские товары, полупроводники, микроэлектроника, тонкие пленки | геология, цемент, жидкости, стекло / керамика, драгоценные металлы, археология, реставрация и искусствоведение, растения, продукты питания, потребительские товары, полупроводники, микроэлектроника, тонкие пленки | геология, цемент, жидкости, стекло / керамика, драгоценные металлы, археология, реставрация и искусствоведение, растения, продукты питания, потребительские товары, полупроводники, микроэлектроника, тонкие пленки |
Метод анализа | микрорентгеновская флуоресценция | микрорентгеновская флуоресценция | микрорентгеновская флуоресценция |
Применение | печатные платы, области размером от 10 мкм, измерение толщины покрытия | печатные платы, области размером от 10 мкм, измерение толщины покрытия | печатные платы, области размером от 10 мкм, измерение толщины покрытия |
Диапазон измерения элементов (стандартно) | Na–U | Na–U | Na–U |
Диапазон измерения элементов (опция) | Na–U | C–U | Na–U |
Анод рентгеновской трубки (стандартно) | Rh | Rh | Rh |
Анод рентгеновской трубки (опция) | W, Mo, Ag, Cu | W, Mo, Ag, Cu, Cr | W, Mo, Ag, Cu, Cr |
Количество рентгеновских трубок, шт. | 1, 2 – опция | 1, 2 – опция | 1, 2 – опция |
Количество детекторов, шт. | 1, 2 – опция | 1, 2 – опция | 1, 2 – опция |
Активная площадь детектора, мм² | 30 | 60 | 60 |
Материал входного окна детектора | Бериллий | Полимер | Полимер |
Мощность рентгеновской трубки, Вт | 30–40 | 30–40 | 30–40 |
Коллиматорная оптика | Опция | Да | Да |
Поликапиллярная оптика | Да | Да | Да |
Диаметр пучка, мм | 0,025–4,5 | 0,02–4,5 | 0,01–4,5 |
Автоматический сменщик коллиматоров первичного пучка | Да | Да | Да |
Фильтры первичного рентгеновского пучка | 8 | 8 | 8 |
Автоматический сменщик фильтров первичного излучения | Да | Да | Да |
Фильтры первичного рентгеновского пучка для установки вручную | Нет | Нет | Нет |
Вакуумирование измерительной камеры | Да | Да | Да |
Создание инертной среды в измерительной камере, гелий | Опция | Опция | Опция |
Видеокамера для обзора области анализа | Да | Да | Да |
Видеомикроскоп с увеличением, крат | 100 | 100 | 100 |
Лазерная система наведения на область анализа | Да | Да | Да |
Максимальный вес образца, кг | 5 | 7 | 7 |
Размеры столика для установки образца, мм | 330 × 170 | 330 × 170 | 330 × 170 |
Моторизация столика по осям XY | Да | Да | Да |
Моторизация столика по осям XYZ | Да | Да | Да |
Максимальные габариты образца, мм | 600 × 350 × 260 | 600 × 350 × 260 | 600 × 350 × 260 |
Масса спектрометра, кг | 130 | 130 | 130 |
Габаритные размеры (Ш × Г × В), см | 815 × 680 × 580 | 815 × 680 × 580 | 815 × 680 × 580 |
Пакет программного обеспечения AMICS для минералогического анализа | Опция | Да | Опция |