Сайт обновлён 26 ноября 2023
Москва, Угрешская ул, д. 2, корп. 55
Работаем с 2009 года.
- Поставка, поверка и ремонт измерительных приборов.
- Аттестация лабораторий НК. Производство УЗК ПЭП.
- Скидки торгующим фирмам. Оплата после поставки.
Круглосуточный прием заявок
Generic selectors
Exact matches only
Search in title
Search in content
Search in posts
Search in pages
Filter by Categories
Акции
Новости
Обзоры
Партнеры
0
Главная Товары Химический анализ Эмиссионные спектрометры Рентгенофлуоресцентный спектрометр S2 PICOFOX

Спектрометр S2 PICOFOX использует метод рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением (РФА-ПВО или TXRF). Прибор имеет специальную геометрию расположения источника возбуждения и детектора флуоресцентного излучения. Узкий рентгеновский пучок падает на подложку с образцом под малым углом и отражается поверхностью под действием эффекта полного внешнего отражения. Использование такого принципа позволяет уменьшить эффекты рассеяния, а также расположить детектор очень близко к пробе, что, в свою очередь, повышает эффективность регистрации флуоресцентного излучения. В результате чувствительность прибора возрастает на несколько порядков (до долей ppb).

Основные преимущества S2 PICOFOX:

  • низкие пределы обнаружения: от 1 ppb (1 мкг/л) до 100 %;
  • рентгеновские трубки с размером пятна 1 × 1 мм или 50 × 50 мкм;
  • монохроматор первичного пучка — многослойный плоский или изогнутый;
  • загрузчик образцов: ручная загрузка (на 1 позицию) или автоматический (на 25 позиций);
  • не требуется сложная и трудоемкая подготовка проб;
  • не требуются дорогостоящие расходные материалы.

Технические характеристики S2 PICOFOX Bruker:

Тип стационарный
Материал образцов / применение жидкости, стекло / керамика, растения, продукты питания, потребительские товары, полупроводники, микроэлектроника, тонкие пленки, материаловедение и разработка новых материалов, медицина и фармакология
Метод анализа рентгеновская флуоресценция с полным внешним отражением
Применение от Mg до U
Диапазон измерения массовой доли элементов, % 0,0000001–100
Разновидность метода рентгенофлуоресцентной спектрометрии TXRF
Диапазон измерения элементов (стандартно) Al–U
Диапазон измерения элементов (опция) N–U
Анод рентгеновской трубки (стандартно) Mo
Анод рентгеновской трубки (опция) Нет
Мощность рентгеновской трубки, Вт 50
Автоматический сменщик фильтров первичного излучения Нет
Толщина бериллиевого окна рентгеновской трубки, мкм 75
Коллиматоры первичного пучка (диаметр), мм Нет
Кристаллы-анализаторы, количество Не требуются
Монохроматоры первичного излучения 1
Максимальное количество образцов для одновременной загрузки 1–25
Вращение образца Нет
Встроенная видеокамера для обзора области измерения Нет
Программное обеспечение для бесстандартного анализа методом фундаментальных параметров (опция) Нет
Аналитическое решение для применения в цементной промышленности (опция) Нет
Аналитическое решение для геологических материалов (опция) Нет
Продвинутое аналитическое решение для геологических материалов (опция) Нет
Дополнительные аналитическое решения (опция) Нет
Габаритные размеры (Д × Ш × В), мм 450 × 590 × 300
Вес, кг 39

Задать вопрос
Для того, что бы наш специалист связался с Вами, пожалуйста, оставьте Ваши контактные данные
Товар добавлен в корзину
Цена:
Сумма:
Продолжить покупки
Оформить заказ