Система анализа для электронных микроскопов QUANTAX EBSD

QUANTAX EBSD — система дифракции обратно рассеянных электронов

• Быстрое картирование и получение результатов одновременно по элементному составу с помощью EDS и кристаллической структуре и текстуре с помощью EBSD с быстродействием до 930 точек/с.
• Серия детекторов дифракции обратно рассеянных электронов e-Flash EBSD с вертикальнымпозиционированием для получения наилучшего EBSD-сигнала.
• Скорость картирования ориентации кристаллитов — 630 точек/с (сортировка 4×4) или 930 точек/с (сортировка 8×8) с помощью детектора e-Flash1000.
• Сбор карт с высоким разрешением с помощью e-FlashHR, предоставляющего снимки образцов с разрешением до 1600×1200 точек. Скорость сбора 140 точек/с (сортировка 10×10) и 170 точек/с (сортировка 20×20). Также поддерживаются измерения при низком ускоряющем напряжении (до 5 кВ) и низких токах пучка (до 0,1 нА).
• Направляющее устройство с точностью позиционирования на люминесцентном экране <10 мкм.
• Уникальная функция автоматического отвода детектора после завершения измерения.