Рентгеновский аналитический микрозонд ЭКРОС XRF-9720 сканирующий

Настольный рентгеновский микрозонд ЭКРОС XRF-9720 STINGRAY позволяет проводить элементный анализ микро-и макрообъектов, исследовать однородность состава с помощью картирования элементов и рентгенографических изображений объектов.

Особенности ЭКРОС XRF-9720:

• Элементное картирование
  Программное обеспечение позволяет строить карты распределения элементов в диапазоне от Na до U и исследовать неоднородность объектов.
• Микроанализ
  Благодаря минимальному размеру рентгеновского пятна 20 мкм, возможно проведение элементного картирования с высоким разрешением, а также качественного и количественного рентгенофлуоресцентного анализа.
• Точность позиционирования
  Высокопрецизионный предметный стол, совмещённый с оптическим микроскопом/видеокамерой, даёт возможность точно исследовать заданную оператором область.
• Рентгенография
  С помощью специального детектора, расположенного под объектом исследования, выводятся рентгенографические изображения.
• Видеозахват области сканирования
  Выбор области измерения проводят по изображению с видеокамеры или оптического микроскопа с последующей возможностью его наложения на результаты элементного картирования.
• Нестандартные размеры объектов
  Возможно проведение измерений крупногабаритных образцов неправильной формы.
• Отсутствие пробоподготовки
  Нет необходимости в проведении дополнительной подготовки анализируемых образцов.

Области применения:

• Исследование покрытий.
• Электроника, электронные платы.
• Новые материалы, полупроводники.
• Искусство.
• Археология и реставрация.
• Технологический контроль.
• Криминалистика.
• Экспертиза.
• Материаловедение.