Прибор предназначен для измерения толщины одно- и многослойных, одно- и многокомпонентных покрытий, полученных по технологиям CVD, PVD, плазменного напыления, окислительного анодирования, ионного напыления или ионного травления, покрытий, нанесенные химическим или гальваническим осаждением, полимерных покрытий, лаков, красок и других видов твердых покрытий толщиной от 1 до 500 мкм, нанесенных на твердое основание.
Измерение основано на определении геометрических размеров сферы («сферического микрошлифа»), образованной при абразивном истирании покрытия и, частично, основания стальным вращающимся шаром при добавлении в зону контакта абразивной суспензии. Шар имеет точки опоры – на вращающемся приводном валу и образце.
В месте контакта шара с покрытием при абразивном истирании образуется микрошлиф сферической формы, на котором наблюдаются две характерные зоны: зона износа покрытия и зона износа основания.
После проведения истирания образец исследуют с использованием измерительного микроскопа. Измеряют диаметры микрошлифов в покрытии (в слоях покрытия в случае многослойного покрытия) и основании. Измеряют диаметр шара. Полученные результаты измерений подставляют в формулу для расчета толщины покрытия (толщины каждого слоя покрытия в случае многослойного покрытия).
Измерения осуществляются по методике измерений, внесенной в федеральный информационный фонд по обеспечению единства измерений.
В комплект поставки не входит, но является необходимым для проведения измерений измерительный микроскоп!
Цифровой микроскоп с измерительными возможностями (без ПК)
Комплект оборудования для проведения измерений на крупногабаритных деталях
Персональный компьютер с ОС Windows и пакетом офисных программ
Оборудование и метрологическое обеспечение для применения в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений